Wyobraź sobie malutką igłę, dziesięć tysięcy razy cieńszą od ludzkiego włosa, umieszczoną na sondzie, która delikatnie przesuwa się nad powierzchnią badanego materiału. Reagując swoim odkształceniem na najmniejsze siły przyciągania lub odpychania, “czuje” kształt materiału. Podobnie do tego jakbyśmy przesuwali palcem po powierzchni i wyczuwali budowę przedmiotu. Gdy sonda porusza się w górę i w dół po nierównościach powierzchni, wiązka lasera śledzi jej ruchy. Następnie informacje o jej odkształceniu przesyłane są do komputera, który przetwarza je w obraz, pokazujący kształt badanego materiału z dużą rozdzielczością, tworząc równocześnie jej trójwymiarowy model. Dzięki temu mikroskop sił atomowych (Atomic Force Microscope), umożliwia nam odkrywanie niewidzialnego gołym okiem świata, w którym możemy badać maleńkie obiekty, takie jak wirusy, bakterie, cząsteczki DNA. Mikroskop ten nie tylko tworzy obrazy topografii skanowanego materiału ale również mierzy jego właściwości mechaniczne, elektryczne, magnetyczne a nawet skład chemiczny. Pozwala zobaczyć i zrozumieć szczegóły powierzchni, co jest kluczowe w wielu dziedzinach nauki i pomaga w tworzeniu nowych materiałów, technologii czy leków.